掃描式激光測振儀-武漢精澤技術有限公司

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LV-S01-M非接觸式高精度激光測振儀
非接觸式高精度激光測振儀可以通過顯微光學系統實現對微小物體的振動測量，可以精確測量MEMS等微小結構元器件的振動和形貌，激光光斑達微米量級，并可通過顯微成像系統實時觀察物體的振動狀態（頻率、速度、加速度、位移）等多維信息。

更新時間：2022-11-12型號：LV-S01-M

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LV-S01-M高精度激光測振儀
高精度激光測振儀可以通過顯微光學系統實現對微小物體的振動測量，可以精確測量MEMS等微小結構元器件的振動和形貌，激光光斑達微米量級，并可通過顯微成像系統實時觀察物體的振動狀態（頻率、速度、加速度、位移）等多維信息。

更新時間：2022-10-19型號：LV-S01-M

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